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LED應用于照明領域的可靠性及成本分析

2010-11-14 作者:未知 來源:ledinside 瀏覽量: 網友評論: 0

摘要: 近年來,由于LED的技術發(fā)展迅速,主要性能指標有很大提高,目前LED器件的發(fā)光效超過200lm/W,產業(yè)化水平達110~120lm/W,可以作為光源在照明領域推廣應用,目前已進入室外景觀照明、功能性照明、商用照明等領域。

  近年來,由于LED的技術發(fā)展迅速,主要性能指標有很大提高,目前LED器件的發(fā)光效超過200lm/W,產業(yè)化水平達110~120lm/W,可以作為光源在照明領域推廣應用,目前已進入室外景觀照明、功能性照明、商用照明等領域。在應用過程中,有幾個主要技術和成本問題,如LED照明燈具的能效還不高,LED白光的光色在某些照明場合還不合適,LED燈具的可靠性還不高,有些產品壽命很短,另外LED燈具的價格目前普遍偏高等,這些問題有待進一步解決和提高。業(yè)界同行對LED光源的可靠性和成本問題比較重視,均在努力解決之中。本文也將著重對這兩個問題進行較為詳細的描述及分析。

  一、LED照明燈具可靠性

  有關LED照明燈具的分類、性能指標及可靠性等,美國“能源之星”中已有很具體的規(guī)定[1],可靠性指標中,主要規(guī)定LED照明燈具壽命3.5萬小時,在全壽命期內色度變化在CIE1976(u,v)中0.007以內。美國SSL計劃中規(guī)定白光LED器件壽命在2010-2015年中為5萬小時。國內對LED照明燈具的壽命要求一般也提到3~3.5萬小時。

  上述提到LED燈具壽命和色保持度的指標,從目前來看是很高的,實際上很多LED燈具還達不到這個要求,因為LED燈具所涉及的技術問題很多、很復雜,其中主要是系統(tǒng)可靠性問題,包含LED芯片、封裝器件、驅動電源模塊、散熱和燈具的可靠性。以下分別對這些問題進行分析:

  1.LED燈具可靠性相關內容介紹

  在分析LED燈具可靠性之前,先對LED可靠性有關的基本內容作些介紹,將對LED燈具可靠性的深入分析有所幫助。

  (1)本質失效、從屬失效

  LED器件失效一般分為二種:本質失效和從屬失效。本質失效指的是LED芯片引起的失效,又分為電漂移和離子熱擴散失效。從屬失效一般由封裝結構材料、工藝引起,即封裝結構和用的環(huán)氧、硅膠、導電膠、熒光粉、焊接、引線、工藝、溫度等因素引起的。

  (2)十度法則

  某些電子器件在一定溫度范圍內,溫度每升高10℃,其主要技術指標下降一半(或下降1/4)。實踐證明,LED器件熱沉溫度在50℃至80℃時,LED壽命值基本符合十度法則。最近也有媒體報道:LED器件溫度每上升2℃,其壽命下降10%,當溫度從63℃上升至74℃時,平均壽命下降3/4。因為器件封裝工藝不同,完全可能出現(xiàn)這種現(xiàn)象。

  (3)壽命的含義

  LED壽命是指在規(guī)定工作條件下,光輸出功率或光通量衰減到初始值的70%的工作時間,同時色度變化保持在0.007內。

  LED平均壽命的意義是LED產品失效前的工作時間的平均值,用MTTF來表示,它是電子器件最常用的可靠性參數(shù)。

  可靠性試驗內容包括可靠性篩選、環(huán)境試驗、壽命試驗(長期或短期)。我們這里所討論的只是壽命試驗,其他項目暫不考慮。

  (4)長期壽命試驗

  為了確認LED燈具壽命是否達到3.5萬小時,需要進行長期壽命試驗,目前的做法基本上形成如下共識:因GaN基的LED器件開始的輸出光功率不穩(wěn)定,所以按美國ASSIST聯(lián)盟規(guī)定,需要電老化1000小時后,測得的光功率或光通量為初始值。之后加額定電流3000小時,測量光通量(或光功率)衰減要小于4%,再加電流3000小時,光通量衰減要小于8%,再通電4000小時,共1萬小時,測得光通量衰減要小于14%,即光通量達到初始值的86%以上。此時才可證明確保LED壽命達到3.5萬小時。

  (5)加速(短期)壽命試驗

  電子器件加速壽命試驗可以在加大應力(電功率或溫度)下進行試驗,這里要討論的是采用溫度應力的辦法,測量計算出來的壽命是LED平均壽命,即失效前的平均工作時間。采用此方法將會大大地縮短LED壽命的測試時間,有利于及時改進、提高LED可靠性。加溫度應力的壽命試驗方法在文章[2]中已詳細論述,主要是引用“亞瑪卡西”(yamakoshi)的發(fā)光管光功率緩慢退化公式,通過退化系數(shù)得到不同加速應力溫度下LED的壽命試驗數(shù)據(jù),再用“阿倫尼斯”(Arrhenius)方程的數(shù)值解析法得到正常應力(室溫)下的LED的平均壽命,簡稱“退化系數(shù)解析法”,該方法采用三個不同應力溫度即165℃、175℃和185℃下,測量的數(shù)據(jù)計算出室溫下平均壽命的一致性。該試驗方法是可靠的,目前已在這個研究成果上,起草制定“半導體發(fā)光二極管壽命的試驗方法”標準,國內一些企業(yè)也同時研制加速壽命試驗的設備儀器。

  2. LED器件可靠性

  LED器件可靠性主要取決于二個部分:外延芯片及器件封裝的性能質量,這二種失效機理完全不一樣,現(xiàn)分別敘述。

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