1 前 言

　　半導體發光二極管是一種重要的光電子器件,它在科學研究和工農業生產中均有非常廣泛的應用.發光二極管雖小,但要準確測量它的各項光和輻射參數并非一件易事.目前在世界范圍內的測試比對還有較大的差異.鑒于此,CIE(國際照明委員會)TC2-34 小組對此進行了研究,所提出的技術報告形成了CIE127-1997 文件.

　　中國光學光電子行業協會光電器件專業分會根據國內及行業內部的實際情況,初步制定了行業標準"發光二極管測試方法",2002 年起在行業內部試行.本文敘述了與發光二極管測試有關的術語和定義,在此基礎上,詳細介紹了測試方法和測試裝置的要求,以期收到拋磚引玉之效果.

　　本文涉及的測試方法適用于紫外/可見光/紅外發光二極管及其組件,其芯片測試可以參照進行。

　　2 術語和定義

　　2.1 發光二極管 LED

　　除半導體激光器外，當電流激勵時能發射光學輻射的半導體二極管。嚴格地講，術語LED 應該僅應用于發射可見光的二極管;發射近紅外輻射的二極管叫紅外發光二極管(IRED,Infrared Emitting Diode);發射峰值波長在可見光短波限附近，由部份紫外輻射的二極管稱為紫外發光二極管;但是習慣上把上述三種半導體二極管統稱為發光二極管。

　　2.2 光軸 Optical axis

　　最大發光(或輻射)強度方向中心線。

　　2.3 正向電壓VF Forward voltage

　　通過發光二極管的正向電流為確定值時，在兩極間產生的電壓降。

　　2.4 反向電流IR Reverse current

　　加在發光二極管兩端的反向電壓為確定值時，流過發光二極管的電流。

　　2.5 反向電壓VR Reverse voltage

　　被測LED 器件通過的反向電流為確定值時，在兩極間所產生的電壓降。

　　2.6 總電容C Capacitance

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