LED芯片壽命試驗條件及測試過程
|
上傳人：網(wǎng)絡(luò) 上傳時間： 2016-04-29 瀏覽次數(shù)： 375 |
LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。
附件為《LED芯片壽命試驗條件及測試過程》pdf，歡迎大家下載學(xué)習(xí)!
下載資料需要0燈幣，如何得到燈幣？
最新評論
用戶名： 密碼：